GoGo Instruments Mengirim Stage Termal Probe yang Disesuaikan ke Universitas Beihang

Instrumen Fisika yang Disesuaikan untuk Sekolah Fisika di Universitas Beihang: Tahap termal probe presisi tinggi 14 saluran, cocok untuk pengujian kinerja listrik perangkat mikro-nano dan material semikonduktor di bawah lingkungan suhu yang bervariasi. Sistem ini menampilkan desain pengujian multi-saluran, mendukung akses sinyal listrik untuk perangkat pin yang kompleks untuk memenuhi tuntutan penelitian ilmiah presisi tinggi.

• 12 konektor penerbangan multi-pin: Terhubung melalui kotak sambungan, memungkinkan koneksi yang stabil untuk perangkat multi-pin, ideal untuk sampel dengan tata letak pin yang padat dan desain yang ringkas.
• 2 antarmuka SMA: Cocok untuk sinyal frekuensi tinggi atau persyaratan pengukuran kebisingan rendah, meningkatkan fleksibilitas pengujian dan integritas sinyal.
• Koneksi blok terminal untuk semua saluran: Memastikan kontak yang andal dan memungkinkan pengguna untuk dengan cepat memasang atau mengganti sampel.

• Proses ruang vakum khusus: Struktur penyegelan yang dioptimalkan dan perlakuan material secara signifikan meningkatkan kinerja retensi vakum.
• Ruang sampel yang sangat kompatibel: Mendukung tata letak tahap sampel yang disesuaikan, beradaptasi dengan berbagai ukuran perangkat dan konfigurasi elektroda.

• Pengujian sifat listrik material semikonduktor
• Pengukuran I-V dan C-V suhu variabel dari perangkat mikro-nano
• Evaluasi keandalan perangkat di bawah lingkungan suhu rendah/tinggi
• Karakterisasi listrik paralel sampel dengan struktur kompleks multi-elektroda

Di tempat

• Metode Pendinginan/Pemanasan: Pendinginan nitrogen cair, pemanasan resistansi
• Rentang Suhu: -190°C hingga 400°C
• Stabilitas Suhu: ±0,1°C (±0,3°C dari -120°C hingga 190°C)
• Tingkat Kontrol Suhu: Tingkat pemanasan maks: 150°C/menit, Tingkat pendinginan maks: 40°C/menit
• Tahap Sampel: Bahan perak; 23mm * 23mm
• Jalur Optik: Pantulan
• Ukuran Jendela: φ25mm
• Bahan Jendela: Kaca kuarsa JGS2 (rentang pita transmisi 220nm ~ 2500nm), dapat dilepas dan diganti secara manual
• Jarak dari Permukaan Atas Jendela ke Permukaan Atas Sampel: 7mm
• Tinggi Ruang Sampel: 6mm
• Pencairan Jendela: Pembersihan gas untuk pencairan pada suhu rendah
• Ruang: Vakum
• 14 Tiang Pengikat, termasuk 12 pin dan 2 terhubung ke antarmuka SMA