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Etapa de calentamiento del microscopio

Estadio de calentamiento del microscopio a altas temperaturas 1200°C Rango ± 0,1°C Estabilidad 50°C/min Tasa Metallografía de soporte cerámico
Placa calefactora de microscopio metalográfico de precisión 1000 °C ±0.1 °C de estabilidad 50 °C/min Análisis de grano de transformación de fase
Platina Calefactora para Microscopio de Espectroscopía 800°C ±0.1°C Estabilidad 50°C/min Tasa Soporte Cerámico Compatible con Raman FTIR
Platina de microscopio calentada de precisión con estabilidad de ±0,1°C, rango de 1000°C y velocidad de calentamiento de 50°C/min

Etapa de enfriamiento de calefacción

Etapa de sonda

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XihaoT (Suzhou) Technology Co., Ltd.

Sala 201, Edificio 3, No. 66 Yinsheng Road, Parque Industrial de Suzhou, Área de Suzhou de China (Jiangsu) Zona de Libre Comercio Piloto, Suzhou, provincia de Jiangsu, China

86--15605601921

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