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Datos del producto:
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| Lugar de origen: | Suzhou, China |
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| Nombre de la marca: | GoGo |
| Certificación: | ISO 9001:2015 / ISO 14001:2015 / ISO 45001:2018 |
| Número de modelo: | H200A |
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Pago y Envío Términos:
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| Cantidad de orden mínima: | 1 |
| Precio: | CNY 30000~600000/set |
| Detalles de empaquetado: | Caja de cartón + caja de madera |
| Tiempo de entrega: | 30~60 días laborables |
| Condiciones de pago: | ,T/T |
| Capacidad de la fuente: | 1 juego/día |
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Información detallada |
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| Nombre: | Etapa de calentamiento del microscopio | Método de refrigeración/calentamiento: | Calefacción de resistencia |
|---|---|---|---|
| Rango de temperatura: | temperatura ambiente ~ 200 ℃ | Estabilidad de temperatura: | ± 0.1 ℃ |
| Tarifa de la calefacción/de enfriamiento: | Velocidad máxima de calentamiento: 50 ℃/min, velocidad de enfriamiento controlable | Portamuestras: | Acero inoxidable ;φ60mm |
| Trayectoria óptica: | Reflexión | Resistencia a la presión: | 3KN |
| Configuración básica: | TNEX*1, Etapa de calentamiento óptico*1, Enfriador de recirculación*1, Cables, Tuberías y accesorios | Opcional: | Placa adaptadora/Enfriador de recirculación personalizado/Host de computadora/Software de control de |
| Resaltar: | Platina Calefactora de Precisión para Microscopio,Platina Calefactora de Microscopio 60mm,Platina Térmica de Microscopio de Alta Estabilidad |
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Descripción de producto
El GoGo H200A es una etapa de calentamiento de microscopio de ingeniería de precisión diseñada para una observación y análisis in situ confiables en condiciones térmicas controladas.Ofrece un rango de temperatura de ambiente a 200°C con una estabilidad excepcional de ±0.1 °C, esta etapa es una herramienta versátil para estudiar transiciones de polímeros, muestras biológicas, reacciones químicas e interfaces de materiales directamente bajo un microscopio.Construido con un soporte de muestra robusto de acero inoxidable y con una resistencia a la presión significativa de 3KN, esta duradera etapa de calentamiento por microscopio es ideal para aplicaciones que requieren tanto un calentamiento preciso como una estabilidad mecánica.Proporciona a los investigadores una solución completa para experimentos térmicos automatizados.
Excepcional precisión térmica y estabilidad:Obtener resultados altamente fiables y repetibles con una excelente estabilidad de temperatura de ± 0,1 °C.garantizar datos precisos para experimentos sensibles en ciencias de los materiales y ciencias de la vida utilizando esta etapa de calentamiento por microscopio.
Calentamiento rápido y rendimiento controlado:Se beneficiará de una velocidad de calentamiento rápida de 50°C/min y de un enfriamiento controlado y programable mediante el refrigerador de recirculación incluido, lo que permitirá un ciclo térmico eficiente y protegerá la integridad de la muestra.
Construcción robusta para un uso exigente:El gran soporte de acero inoxidable φ60 mm proporciona una superficie plana y duradera para varias muestras.Su resistencia inherente a la presión hace que esta etapa de calentamiento del microscopio sea adecuada para experimentos que involucren materiales blandos o procesos que requieren una resistencia estable a la presión., plataforma rígida.
Integración perfecta y control inteligente:El software TNEX incluido permite una fácil programación de perfiles de temperatura complejos, registro de datos en tiempo real y operación automatizada, agilizando su flujo de trabajo experimental desde la configuración hasta el análisis.
Calidad certificada a nivel mundial:Fabricado según la norma ISO 9001:2015, 14001:2015, y los procesos certificados 45001:2018, esta etapa de calentamiento por microscopio garantiza la fiabilidad del producto, la seguridad y la responsabilidad ambiental para los mercados internacionales.
| Parámetro | Especificación |
|---|---|
| Modelo / Marca | H200A / GoGo |
| Tipo de producto | Etapa de calentamiento del microscopio |
| Rango de temperatura | RT ~ 200°C |
| Estabilidad a temperatura | ± 0,1°C |
| Tasa máxima de calentamiento | Se aplican las siguientes medidas: |
| Titular de la muestra | Acero inoxidable, φ60 mm |
| Resistencia a la presión | 3KN |
| Ruta óptica | Reflexión |
| Software de control | Plataforma TNEX |
Esta etapa de calentamiento por microscopio profesional se utiliza eficazmente en mercados de investigación en crecimiento en todo el mundo, incluidos el sudeste asiático, Oriente Medio, Rusia y África.Sirve a una clientela diversa de universidades, los institutos de investigación gubernamentales y privados, y las empresas de fabricación de alta tecnología que participan en la investigación y desarrollo de productos farmacéuticos, ingeniería de polímeros, nanotecnología y electrónica.
¿Es compatible esta etapa de calentamiento del microscopio con mi microscopio?
Sí, su diseño estándar y compacto asegura la compatibilidad con la mayoría de los microscopios ópticos y metalúrgicos comunes para una integración sencilla en su configuración de laboratorio.
¿Cuál es el beneficio de la resistencia a la presión de 3KN?
Esta característica garantiza que la etapa permanezca mecánicamente estable y plana, incluso cuando las muestras se expanden o se contraen durante el calentamiento, o cuando se aplica una ligera presión.Garantiza un enfoque constante y un rendimiento fiable, lo que lo convierte en una etapa de calentamiento de microscopio robusta.
¿Qué software se utiliza para el control?
El sistema está completamente controlado por nuestro software TNEX, que proporciona capacidades para establecer perfiles de temperatura precisos, monitorear experimentos en tiempo real,y datos de exportación para un mayor análisis.
¿Cómo se enfría el escenario?
El enfriador recirculador incluido proporciona un enfriamiento activo y controlable, lo que permite un ciclo térmico rápido y la protección de los componentes internos del escenario durante un uso prolongado.
¿Qué apoyo hay?
Proporcionamos documentación completa, recursos en línea y soporte técnico receptivo para garantizar que su etapa de calentamiento de microscopio funcione sin problemas y de manera eficiente durante todo su ciclo de vida.
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