Sala 201, Edifício 3, No. 66 Yinsheng Road, Parque Industrial de Suzhou, Área de Suzhou da Zona de Livre Comércio Piloto da China (Jiangsu), Suzhou, Província de Jiangsu, China

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Estágio de aquecimento do microscópio(12)

Estágio de resfriamento de aquecimento(10)

Estágio de Sonda(15)

Estação de sonda(7)

Estágio de microscópio Peltier(7)

Estágio de tração(5)

Estágio de amostra XRD(3)

Estágio de amostra SEM(2)

Estágio de tração SEM(1)

Equipamento de observação de alta temperatura(2)

Sistema de teste in situ(4)

Aquecedor de wafer(3)

heating stage

Módulo de Tração Inteligente Horizontal Compacto para Testes de Materiais In Situ

Fase de sonda de alta precisão de alta temperatura Fase quente e fria para medição elétrica óptica integrada

Motorizado Probe estágio de alta precisão de medição estágio características Um controlador de sonda controlada eletricamente

Peltier Probe Stage com sondas de tungstênio revestidas de ouro e caminho óptico de reflexão e transmissão para controle preciso de temperatura (-25 °C a 120 °C)

Fase de amostragem XRD universal com faixa de temperatura de -190°C a 400°C e ângulo de difração de 0° a 164° 2θ para as principais marcas de XRD

FH5000-1000V Estágio de tensão a vácuo a altas temperaturas para ensaio mecânico em vários modos (1000°C, 5000N)

FH5000-1000V Estágio de tensão a vácuo a altas temperaturas para ensaio mecânico em vários modos (1000°C, 5000N)

Plataforma de Microscópio Criogênico Peltier CPE50 com Faixa de -50°C a RT, Estabilidade de ±0,1°C e Câmara de Atmosfera sem Gelo

Fase de aquecimento e arrefecimento a temperaturas extremas Ampla faixa de -190°C a 600°C ±0,1°C Estabilidade Pesquisa de materiais

Fase de refrigeração de aquecimento de precisão criogénico atingindo -190°C ± 0,1°C Estabilidade Sistema antifroxo Pesquisa de polímeros

Espectroscopia Fase de aquecimento e resfriamento de via óptica dupla -190°C a 400°C ±0,1°C Estabilidade Análise Raman FTIR

Aquecedor de wafer de alta precisão com estabilidade de ± 0,1 °C, design otimizado para vácuo e taxa de aquecimento de 150 °C/min para processamento de semicondutores

Cryo / Sistema de teste in situ de alta temperatura Sistema de imagem de microscópio versátil

Estação de sonda criogénica de alta precisão e estação de sondagem de baixo ruído para testes de dispositivos de semicondutores

Estação de Sonda a Vácuo com Controle Automatizado e Sonda Robusta para Alta Temperatura

Precisão na Medição, Global em Temperatura.

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Módulo de Tração Inteligente Horizontal Compacto para Testes de Materiais In Situ

Fase de sonda de alta precisão de alta temperatura Fase quente e fria para medição elétrica óptica integrada

Motorizado Probe estágio de alta precisão de medição estágio características Um controlador de sonda controlada eletricamente

Peltier Probe Stage com sondas de tungstênio revestidas de ouro e caminho óptico de reflexão e transmissão para controle preciso de temperatura (-25 °C a 120 °C)

Fase de amostragem XRD universal com faixa de temperatura de -190°C a 400°C e ângulo de difração de 0° a 164° 2θ para as principais marcas de XRD

FH5000-1000V Estágio de tensão a vácuo a altas temperaturas para ensaio mecânico em vários modos (1000°C, 5000N)

FH5000-1000V Estágio de tensão a vácuo a altas temperaturas para ensaio mecânico em vários modos (1000°C, 5000N)

Plataforma de Microscópio Criogênico Peltier CPE50 com Faixa de -50°C a RT, Estabilidade de ±0,1°C e Câmara de Atmosfera sem Gelo

Fase de aquecimento e arrefecimento a temperaturas extremas Ampla faixa de -190°C a 600°C ±0,1°C Estabilidade Pesquisa de materiais

Fase de refrigeração de aquecimento de precisão criogénico atingindo -190°C ± 0,1°C Estabilidade Sistema antifroxo Pesquisa de polímeros

Espectroscopia Fase de aquecimento e resfriamento de via óptica dupla -190°C a 400°C ±0,1°C Estabilidade Análise Raman FTIR

Aquecedor de wafer de alta precisão com estabilidade de ± 0,1 °C, design otimizado para vácuo e taxa de aquecimento de 150 °C/min para processamento de semicondutores

Cryo / Sistema de teste in situ de alta temperatura Sistema de imagem de microscópio versátil

Estação de sonda criogénica de alta precisão e estação de sondagem de baixo ruído para testes de dispositivos de semicondutores

Estação de Sonda a Vácuo com Controle Automatizado e Sonda Robusta para Alta Temperatura

Precisão na Medição, Global em Temperatura.