اسپکتروسکوپی میکروسکوپ مرحله گرمایش 800 °C ± 0.1 °C ثبات 50 °C / دقیقه نرخ Raman FTIR حامل سرامیکی سازگار

هیت استیج میکروسکوپ طیف‌سنجی GoGo H800-SP شکاف حیاتی بین کنترل دقیق حرارتی و اخذ داده‌های طیف‌سنجی با کیفیت بالا را پر می‌کند. برخلاف هیت استیج‌های عمومی که به عنوان یک فکر ثانویه برای طیف‌سنجی تطبیق داده شده‌اند، H800-SP از ابتدا با در نظر گرفتن الزامات خاص طیف‌سنج‌های رامان، FTIR، UV-Vis و فلورسانس طراحی شده است. پنجره مشاهده کوارتز ذوب شده JGS2 با عبور بالا، توان نوری بدون افت را از 220 نانومتر تا 2500 نانومتر فراهم می‌کند و از طیف کامل از تحریک فرابنفش تا تشخیص فروسرخ نزدیک بدون تغییر پنجره یا کالیبراسیون مجدد پشتیبانی می‌کند.

در قلب این هیت استیج میکروسکوپ، هندسه نوری با دقت مهندسی شده‌ای قرار دارد که فاصله کاری کوتاه 7 میلی‌متری را حفظ کرده و در عین حال پنجره مشاهده 25 میلی‌متری را در خود جای می‌دهد. این پیکربندی، راندمان جمع‌آوری را برای کاربردهای سیگنال ضعیف مانند طیف‌سنجی رامان لایه نازک، که در آن هر فوتون جمع‌آوری شده اهمیت دارد، به حداکثر می‌رساند. نگهدارنده نمونه سرامیکی یک زیرلایه نوری تیره و از نظر شیمیایی خنثی را فراهم می‌کند که فلورسانس پس‌زمینه و مصنوعات نور پراکنده را به حداقل می‌رساند، که یک نگرانی رایج هنگام استفاده از نگهدارنده‌های نمونه فلزی در کاربردهای طیف‌سنجی است.

پلتفرم کنترل TNEX شامل یک ماژول همگام‌سازی طیفی اختصاصی است که نقشه‌برداری طیفی خودکار وابسته به دما را امکان‌پذیر می‌سازد. محققان یک پروفایل شیب دما را برنامه‌ریزی می‌کنند و سیستم به طور خودکار اخذ طیفی را در فواصل دمایی تعریف شده توسط کاربر فعال می‌کند و جمع‌آوری داده‌های سازگار را در طول چندین اجرای آزمایشی تضمین می‌کند. این ادغام، هماهنگی دستی بین کنترلر حرارتی و طیف‌سنج را که معمولاً باعث خطاهای زمان‌بندی و کاهش قابلیت تکرار داده‌ها در مطالعات طیف‌سنجی تفکیک شده با دما می‌شود، حذف می‌کند.

• سازگاری طیفی پهن‌باند: پنجره کوارتز ذوب شده JGS2 با عبور 220 نانومتر تا 2500 نانومتر از یک پلتفرم نوری واحد، از رامان تشدید فرابنفش، رامان استوکس و آنتی-استوکس مرئی، FTIR فروسرخ نزدیک و طیف‌سنجی فلورسانس پشتیبانی می‌کند.
• نگهدارنده سرامیکی با پس‌زمینه کم: پلتفرم نمونه سرامیکی نوری تیره، فلورسانس پس‌زمینه و مصنوعات نور پراکنده را که نسبت سیگنال به نویز طیفی را در اندازه‌گیری‌های با حساسیت بالا به خطر می‌اندازند، به حداقل می‌رساند.
• ادغام همگام‌سازی طیفی TNEX: نقشه‌برداری طیفی خودکار وابسته به دما با محرک‌های اخذ قابل برنامه‌ریزی، جمع‌آوری داده‌های قابل تکرار را در نقاط دمایی متعدد بدون دخالت دستی تضمین می‌کند.
• هندسه جمع‌آوری بهینه شده: فاصله کاری 7 میلی‌متری و پنجره 25 میلی‌متری، دیافراگم عددی جمع‌آوری را برای کاربردهای سیگنال ضعیف از جمله رامان لایه نازک و تشخیص غلظت ردیابی به حداکثر می‌رساند.
• انعطاف‌پذیری چند حالته: سازگاری تک مرحله‌ای با تنظیمات رامان، FTIR، UV-Vis و فلورسانس، نیاز به استیج‌های حرارتی تخصصی جداگانه برای هر حالت طیف‌سنجی را از بین می‌برد.
• قابلیت اتمسفر کنترل شده: محفظه مهر و موم شده با پورت‌های گاز اختیاری، اندازه‌گیری‌های طیف‌سنجی را در محیط‌های گاز بی‌اثر امکان‌پذیر می‌سازد که برای مطالعه نمونه‌های حساس به هوا و حذف باندهای تداخل اتمسفری ضروری است.

هیت استیج میکروسکوپ H800-SP نیازهای تخصصی گروه‌های تحقیقاتی را که در حال انجام مشخصه‌یابی طیف‌سنجی وابسته به دما در رشته‌های مختلف هستند، برآورده می‌کند. طیف‌سنج‌های رامان از آن برای مطالعات نرم شدن حالت فونون وابسته به دما در نیمه‌هادی‌ها، نظارت درجا بر تحولات پلی‌مورف در ترکیبات دارویی و تجزیه و تحلیل تخریب حرارتی مواد پلیمری استفاده می‌کنند. آزمایشگاه‌های FTIR از این استیج برای طیف‌سنجی واجذب برنامه‌ریزی شده با دما، نظارت بر سینتیک پخت در سیستم‌های اپوکسی و کامپوزیت و مطالعات اکسیداسیون حرارتی پوشش‌های آلی استفاده می‌کنند. کاربردهای طیف‌سنجی UV-Vis و فلورسانس شامل اندازه‌گیری‌های شکاف باند وابسته به دما در لایه‌های نازک نیمه‌هادی، تجزیه و تحلیل خاموشی حرارتی مواد فسفر برای کاربردهای LED و مطالعات پایداری ساختاری در مولکول‌های زیستی و پروتئین‌ها است. صنعت داروسازی برای غربالگری فرم‌های حالت جامد به H800-SP متکی است، جایی که طیف‌سنجی رامان وابسته به دما بین پلی‌مورف‌ها، هیدرات‌ها و حلال‌ها با تفاوت‌های طیفی ظریف که تنها تحت شرایط حرارتی کنترل شده ظاهر می‌شوند، تمایز قائل می‌شود. آزمایشگاه‌های مشخصه‌یابی مواد که به صنایع نیمه‌هادی، داروسازی، شیمیایی و ذخیره انرژی خدمات می‌دهند، H800-SP را برای همبستگی رفتار حرارتی با امضاهای طیف‌سنجی، که امکان درک عمیق‌تر روابط ساختار-خاصیت را در مجموعه تحقیقاتی متنوع خود فراهم می‌کند، ضروری می‌دانند.

هر هیت استیج میکروسکوپ H800-SP تحت سیستم‌های مدیریت کیفیت دارای گواهینامه ISO 9001:2015، ISO 14001:2015 و ISO 45001:2018 تولید و کالیبره می‌شود. تست پذیرش کارخانه شامل تأیید انتقال نوری در کل محدوده طیفی 220 نانومتر تا 2500 نانومتر با استفاده از یک اسپکتروفتومتر کالیبره شده، اعتبارسنجی دقت دما در 10 نقطه تنظیم گسسته که محدوده عملیاتی را پوشش می‌دهند، و گواهینامه فلورسانس پس‌زمینه پنجره نوری برای اطمینان از حداقل تداخل برای کاربردهای طیف‌سنجی رامان است. کل سیستم در یک جعبه پرواز اختصاصی از آلیاژ آلومینیوم با محفظه‌های فوم برش لیزری، بسته‌بندی مانع رطوبت مهر و موم شده با خلاء و یک جعبه چوبی درجه صادراتی با نشانگرهای شوک و رطوبت یکپارچه بسته‌بندی می‌شود. تحویل استاندارد شامل واحد استیج H800-SP، کنترلر دمای دقیق، چیلر در گردش، نرم‌افزار TNEX با ماژول همگام‌سازی طیفی و تمام کابل‌ها و لوله‌های اتصال مورد نیاز است. لوازم جانبی اختیاری شامل کیت‌های اصلاح ورودی گاز برای طیف‌سنجی اتمسفر کنترل شده، صفحات آداپتور سفارشی برای مدل‌های خاص طیف‌سنج و میکروسکوپ، و چیلرهای با ظرفیت افزایش یافته برای آزمایشگاه‌هایی که غربالگری طیف‌سنجی با توان عملیاتی بالا را به طور مداوم اجرا می‌کنند، است. گارانتی استاندارد 12 ماه است و پوشش تمدید شده اختیاری و پشتیبانی فنی اولویت‌دار در دسترس است.