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characterization stage

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Erwärmung Kühlstadium mit einem Bereich von -190 °C bis 600 °C, ±0,1 °C Stabilität und 150 °C/min Erwärmungsgeschwindigkeit für eine präzise thermische Analyse
Kontakt
Universelle XRD-Probenbühne Präzisionsheiz-Kühlbühne für gängige XRD-Marken
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In-situ SEM-Zugprüfstand 5000N Hochtemperaturstufe für mechanische Prüfungen und EBSD-Kompatibilität
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Präzise Temperaturkontrolle Thermische Stufe XY Manipulation Mikroskop Kühlstufe Vielseitig
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Integrierte Probennadel-Stage Präzise Temperaturkontrollierte Mikroskop-Stage für Probenpolarisation
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Vielseitige Peltier-Mikroskop-Stufe Ökofreundliche Peltier-Kühlstufe Effizient
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Mikroskopstadium mit Doppelfunktionsheizung/Kühlung mit -190°C bis 400°C, ±0,1°C Stabilität und 150°C/min Heizgeschwindigkeit
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Peltier-Sonde-Stufe mit vergoldeten Wolfram-Sonden und optischem Reflektions- und Übertragungspfad für eine präzise Temperaturkontrolle (-25 °C bis 120 °C)
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Universal XRD Probenstufe mit -190°C bis 400°C Temperaturbereich und 0° bis 164° 2θ Diffraktionswinkel für die wichtigsten XRD-Marken
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Heizung Kühlung Mikroskopstadium mit einem Bereich von -190°C bis 600°C, ±0,1°C Stabilität und 150°C/min Erhitzungsrate für eine präzise thermische Analyse
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FH5000-1000V Ultrahochtemperatur-Vakuum-Zugtisch für mechanische Tests in mehreren Modi (1000 °C, 5000 N)
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FH5000-1000V Ultrahochtemperatur-Vakuum-Zugtisch für mechanische Tests in mehreren Modi (1000 °C, 5000 N)
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Horizontale Zugprüfvorrichtung Intelligente Steuerung Zugmodule Kompakt für In-situ-Materialprüfung
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Umweltfreundliche Sondenstation Elektrische Charakterisierungsanlage mit Peltier-Temperaturregelung
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Breiter Temperaturbereich Dielektrikum-Messsystem Hochpräzise Dielektrikum-Messausrüstung
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Präzision bei der Messung, global bei der Temperatur.

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Mikroskop-Heiztisch

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characterization stage

Erwärmung Kühlstadium mit einem Bereich von -190 °C bis 600 °C, ±0,1 °C Stabilität und 150 °C/min Erwärmungsgeschwindigkeit für eine präzise thermische Analyse

Universelle XRD-Probenbühne Präzisionsheiz-Kühlbühne für gängige XRD-Marken

In-situ SEM-Zugprüfstand 5000N Hochtemperaturstufe für mechanische Prüfungen und EBSD-Kompatibilität

Präzise Temperaturkontrolle Thermische Stufe XY Manipulation Mikroskop Kühlstufe Vielseitig

Integrierte Probennadel-Stage Präzise Temperaturkontrollierte Mikroskop-Stage für Probenpolarisation

Vielseitige Peltier-Mikroskop-Stufe Ökofreundliche Peltier-Kühlstufe Effizient

Mikroskopstadium mit Doppelfunktionsheizung/Kühlung mit -190°C bis 400°C, ±0,1°C Stabilität und 150°C/min Heizgeschwindigkeit

Peltier-Sonde-Stufe mit vergoldeten Wolfram-Sonden und optischem Reflektions- und Übertragungspfad für eine präzise Temperaturkontrolle (-25 °C bis 120 °C)

Universal XRD Probenstufe mit -190°C bis 400°C Temperaturbereich und 0° bis 164° 2θ Diffraktionswinkel für die wichtigsten XRD-Marken

Heizung Kühlung Mikroskopstadium mit einem Bereich von -190°C bis 600°C, ±0,1°C Stabilität und 150°C/min Erhitzungsrate für eine präzise thermische Analyse

FH5000-1000V Ultrahochtemperatur-Vakuum-Zugtisch für mechanische Tests in mehreren Modi (1000 °C, 5000 N)

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Horizontale Zugprüfvorrichtung Intelligente Steuerung Zugmodule Kompakt für In-situ-Materialprüfung

Umweltfreundliche Sondenstation Elektrische Charakterisierungsanlage mit Peltier-Temperaturregelung

Breiter Temperaturbereich Dielektrikum-Messsystem Hochpräzise Dielektrikum-Messausrüstung

Präzision bei der Messung, global bei der Temperatur.

characterization stage Online-Hersteller

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Erwärmung Kühlstadium mit einem Bereich von -190 °C bis 600 °C, ±0,1 °C Stabilität und 150 °C/min Erwärmungsgeschwindigkeit für eine präzise thermische Analyse

Universelle XRD-Probenbühne Präzisionsheiz-Kühlbühne für gängige XRD-Marken

In-situ SEM-Zugprüfstand 5000N Hochtemperaturstufe für mechanische Prüfungen und EBSD-Kompatibilität

Präzise Temperaturkontrolle Thermische Stufe XY Manipulation Mikroskop Kühlstufe Vielseitig

Integrierte Probennadel-Stage Präzise Temperaturkontrollierte Mikroskop-Stage für Probenpolarisation

Vielseitige Peltier-Mikroskop-Stufe Ökofreundliche Peltier-Kühlstufe Effizient

Mikroskopstadium mit Doppelfunktionsheizung/Kühlung mit -190°C bis 400°C, ±0,1°C Stabilität und 150°C/min Heizgeschwindigkeit

Peltier-Sonde-Stufe mit vergoldeten Wolfram-Sonden und optischem Reflektions- und Übertragungspfad für eine präzise Temperaturkontrolle (-25 °C bis 120 °C)

Universal XRD Probenstufe mit -190°C bis 400°C Temperaturbereich und 0° bis 164° 2θ Diffraktionswinkel für die wichtigsten XRD-Marken

Heizung Kühlung Mikroskopstadium mit einem Bereich von -190°C bis 600°C, ±0,1°C Stabilität und 150°C/min Erhitzungsrate für eine präzise thermische Analyse

FH5000-1000V Ultrahochtemperatur-Vakuum-Zugtisch für mechanische Tests in mehreren Modi (1000 °C, 5000 N)

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Horizontale Zugprüfvorrichtung Intelligente Steuerung Zugmodule Kompakt für In-situ-Materialprüfung

Umweltfreundliche Sondenstation Elektrische Charakterisierungsanlage mit Peltier-Temperaturregelung

Breiter Temperaturbereich Dielektrikum-Messsystem Hochpräzise Dielektrikum-Messausrüstung

Präzision bei der Messung, global bei der Temperatur.