Que se passe- t- il au niveau microscopique lorsque des métaux, des céramiques, du verre ou des matériaux organiques sont soumis à des contraintes de traction ou de compression?Comment les fissures se créent et se propagent?Les réponses à ces questions sont fondamentales pour comprendre les propriétés des matériaux, optimiser les conceptions et prédire la longévité.

Le module d'essai multi-axial universel 09000-AB de Kammrath & Weiss a été spécialement développé pour étudier ces comportements micro-mécaniques.Ce système innovant s'intègre parfaitement à des équipements d'imagerie microscopique haut de gamme tels que les microscopes électroniques à balayage (SEM), étendant les capacités d'essai mécanique macroscopique dans le domaine de l'observation microscopique.

Les essais de matériaux traditionnels ont été largement limités aux observations macroscopiques, ce qui rend difficile l'observation directe des mécanismes de déformation microstructurelle sous contrainte.Le module 09000-AB transforme ce paradigme en fonctionnant comme un "échantillon surdimensionné" qui peut être facilement monté sur la plupart des échantillons SEM, y compris certains microscopes à force atomique (AFM).Cette capacité unique permet aux chercheurs d'appliquer des charges de traction ou de compression précises tout en capturant simultanément des images haute résolution des réactions des matériaux.

La philosophie de conception du module est centrée sur "tester en observant et observer en testant." Son noyau est un système de charge mécanique de haute précision capable d' appliquer jusqu' à 10 kN de force de traction ou de compressionUn mécanisme à double vis distinctif maintient la région centrale du châssis de chargement presque immobile pendant l'allongement de l'échantillon.minimiser les interférences vibratoires et assurer l'exactitude des données et la clarté de l'image.

The standard 09000-AB configuration includes a PC-controlled microprocessor electronic system (DDS-3) and a comprehensive software suite (MDS) featuring intuitive menu-guided setup for complex mechanical testing parameters and experimental protocolsLe système gère à la fois les observations statiques et dynamiques, de la simple tension uniaxienne aux scénarios de charge cyclique sophistiqués.

Les principales capacités logicielles comprennent:

• Compensation de déviation du dispositif garantissant une application précise de la charge
• Enregistrement en temps réel du module d'élasticité pendant l'essai
• Détection et suivi automatisés des fissures pour les études de mécanique des fractures
• Test cyclique optimisé avec plusieurs modes de chargement
• Fonctions avancées supplémentaires, y compris les essais de détente par glissement et de détente par contrainte

Pour une utilisation simplifiée, une option de commande manuelle permet de surveiller le déplacement et la charge en temps réel grâce à une interface intuitive avec capacité de sortie de données USB.

• Métaux: déformation des grains, glissement de dislocation, jumelage, propagation des fissures par fatigue
• Céramique/verre: mécanismes de fracturation fragile, initiation de microcracks
• Composites: comportement de l'interface fibre-matrice, délamination
• Films minces/couchages: résistance à l'adhérence, corrosion par contrainte
• Matériaux biologiques/polymères: réactions cellulaires, comportement de la chaîne polymère

Le système peut accueillir des échantillons de 20 à 60 mm de long avec des épaisseurs allant jusqu'à 5 mm, offrant ainsi une flexibilité pour diverses préparations de spécimens.

Le module 09000-AB offre des spécifications techniques exceptionnelles:

• Charges comprises entre 10 μN et 10 kN pour les essais à l'échelle nano et macro
• Mesure du déplacement jusqu'à 45 mm avec une résolution de 100 nm
• Taux de déformation de 0,3 à 50 μm/sec (personnalisable)

Kammrath & Weiss utilise une approche de conception modulaire, permettant une personnalisation étendue grâce à des accessoires en option:

• Capteurs de charge multiples couvrant toutes les gammes standard
• Extensomètres de haute précision à résolution inférieure à 100 nm
• Systèmes de régulation de la température (de 100°C à 800°C)
• Porteurs d'échantillons spécialisés pour différentes géométries d'échantillons
• Interfaces pour les applications EBSP, AFM, diffraction et synchrotron
• Capacités de mesure de la contrainte optique et de capture vidéo
• Options d'intégration de logiciels tiers

Ce système complet représente plus qu'un équipement de test, il offre un accès sans précédent au comportement des matériaux à l'échelle microscopique.amélioration de la compréhension scientifique et de l'innovation technologique.