الباحثون الذين يواجهون تحديات التحكم الدقيق في درجة الحرارة خلال الملاحظات المجهرية لديهم الآن حلاً رائعاً.مصممة للاندماج بسلاسة مع أنظمة المجهر الرقمي Hirox 3D، يوفر استقرار غير مسبوق لبحوث علوم المواد.

مرحلة التسخين LTS420 تمثل تقدماً كبيراً في تكنولوجيا تنظيم الحرارة للتطبيقات المجهرية. تم تصميمها للحفاظ على تقلبات درجة الحرارة ضمن ± 0.1 درجة مئوية،هذا النظام يضمن تسخين متساو على مساحات عينة كبيرة حتى 53.5×43ملم هذه الدقة تثبت أنها حاسمة للدراسات التي تنطوي على ديناميكية انتقال المراحلوالعمليات الحساسة للحرارة الأخرى التي تتطلب فترات مراقبة طويلة.

تعمل عبر نطاق درجة حرارة مثير للإعجاب من -196 درجة مئوية إلى 420 درجة مئوية،LTS420 يستوعب احتياجات البحث المتنوعة بدءا من سلوك المواد التخفيف إلى التفاعلات الكيميائية عالية درجة الحرارةتتوافق الواجهة القابلة للبرمجة للنظام مع ما يصل إلى 100 شريحة درجة حرارة، مما يسمح للباحثين بتصميم ملفات تعريف حرارية معقدة دون الحاجة إلى التحكم في الكمبيوتر الخارجي.

• نطاق درجة الحرارة: -196°C إلى 420°C
• مساحة العينة: 53.5×43 ملم
• استقرار درجة الحرارة: ±0.1°C
• قطاعات قابلة للبرمجة: 100 على الأكثر
• مرحلة متكاملة X-Y مع نطاق حركة 15 مم

LTS420 يشكل جزءا من مجموعة شاملة من حلول التحكم البيئي قابلة للتكيف مع مختلف التقنيات التحليلية.التناظرية، وتطبيقات انكسار الأشعة السينية، مما يتيح الملاحظة المجهرية والتحليل الطيفي في وقت واحد.

وحدات إضافية توسع قدرات النظام لتشمل وظائف التحكم في الرطوبة وقياس الكهرباء.هذه الميزات المتكاملة تسهل تحليل متعدد المعايير لخصائص المواد في ظل ظروف بيئية خاضعة لسيطرة دقيقة.

عندما يتم مقارنته مع أنظمة المجهر الرقمي ثلاثي الأبعاد المتقدمة من هيروكس، يسمح LTS420 بمراقبة التطور المجهري الهيكلي في الوقت الحقيقي أثناء المعالجة الحرارية.الباحثون يحصلون على تصور ثلاثي الأبعاد للظواهر بما في ذلك نمو الحبوب، فصل المراحل، وانتشار الشقوق، مع درجة حرارة دقيقة والارتباط الزمني.

This combined platform offers materials scientists an unprecedented window into the relationship between microstructure development and macroscopic material properties under controlled thermal conditions.

ستعرض فعاليات الصناعة القادمة القدرات المتكاملة لنظام LTS420 مع تكنولوجيا المجهر Hirox.ستسلط هذه العروض الضوء على التطبيقات العملية في سيناريوهات مراقبة الجودة وقياس الدقة.